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Analysette 22 NanoTec靜態(tài)激光粒度儀，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進(jìn)行樣品顆粒度的檢測。z低檢測下限可達(dá)0.01um。程激光粒度儀A22的推出，可以*替代之前Fritsch公司所生產(chǎn)的緊湊型、微米型、程微米型激光粒度儀。
Fritsch的Analysette 22 NanoTec靜態(tài)光散射納米激光粒度儀，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進(jìn)行樣品顆粒度的檢測。激光粒度儀A22的推出，可以替代之前Fritsch公司所生產(chǎn)的緊湊型、微米型、程微米型激光粒度儀，讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機(jī)器的全部功效，使用更加便捷。
德國Fritsch公司是實(shí)驗(yàn)室樣品預(yù)處理和顆粒度分析的。Fritsch公司的Analysette22 NeXT大量程納米激光粒度儀-，采用聚焦激光散射、衍射的原理進(jìn)行樣品顆粒度的檢測。
聯(lián)系人：魏經(jīng)理
郵箱：bill_lee@fritsch.cn
地址：北京市朝陽區(qū)裕民路12號E1座一層108室
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